X-ray diffraction
http://dbpedia.org/resource/X-ray_diffraction
تقنيات حيود الأشعة السينية هي عائلة من التقنيات التحليلية اللاتلافية التي تعطي معلومات حول البنية البلورية، والتركيب الكيميائي، والخواص الفيزيائية للمواد والطبقات الرقيقة للمواد البلورية. تعتمد هذه التقنيات على مراقبة تبعثر شدة حزمة من الأشعة السينية الساقطة على العينة كتابع لزاوية السقوط والتبعثر، والاستقطاب، وطول الموجة أو القدرة.
rdf:langString
Iarmhairt trasnaíochta ina scaipeann na hadaimh in ábhar X-ghathanna chun patrún de spotaí nó fáinní comhlárnacha a dhéanamh. Is féidir na patrúin seo a thaifeadadh agus a n-ionaid is a ndéiní a anailísiú chun struchtúr adamhach an ábhair a dhéanamh amach, modh oibre a d'fhionn Max von Laue i 1912.
rdf:langString
X線回折（エックスせんかいせつ、英: X‐ray diffraction、XRD）は、X線が結晶格子で回折を示す現象である。 1912年にドイツのマックス・フォン・ラウエがこの現象を発見し、X線の正体が波長の短い電磁波であることを明らかにした。 逆にこの現象を利用して物質の結晶構造を調べることが可能である。このようにX線の回折の結果を解析して結晶内部で原子がどのように配列しているかを決定する手法をX線結晶構造解析あるいはX線回折法という。しばしばこれをX線回折と略して呼ぶ。他に同じように回折現象を利用する結晶構造解析の手法として、電子回折法や中性子回折法がある。
rdf:langString
엑스선 회절(X‐ray diffraction, XRD) 또는 X선 회절은 결정격자를 통과한 X선의 회절을 나타낸 영상이다. 1912년 막스 폰 라우에가 이 현상을 발견하여 X선이 사실은 파장이 짧은 전자기파라는 것을 밝혔다. 거꾸로 이 현상을 이용해 물질의 결정 구조를 조사하는 것이 가능하다. 이러한 X선 회절의 결과를 해석해 결정 내부의 원자가 어떤 배열을 하고 있는가를 밝히는 방법을 'X선 결정구조해석' 또는 'X선 회절법'이라 한다. 이 외에 회절현상을 이용한 결정구조해석의 방법으로 전자회절법, 등이 있다.
rdf:langString
Röntgenbeugung, auch Röntgendiffraktion (englisch X-ray diffraction, XRD) genannt, ist die Beugung von Röntgenstrahlung an geordneten Strukturen wie Kristallen oder Quasikristallen. Grundsätzlich zeigt Röntgenstrahlung die gleichen Beugungserscheinungen wie Licht und alle anderen elektromagnetischen Wellen. Röntgenbeugung wird in der Materialphysik, der Kristallographie, der Chemie und der Biochemie eingesetzt, um die Struktur von Kristallen zu untersuchen, die sogenannte Röntgendiffraktometrie. Beispielsweise spielten Ergebnisse der Röntgenstreuung eine wichtige Rolle bei der Strukturanalyse der DNS. Die dazu eingesetzten Geräte waren ursprünglich Röntgenkameras, die Beugungsbilder auf handelsüblichen Röntgenfilmen festhielten, heute werden überwiegend Röntgendiffraktometer mit Zählrohren
rdf:langString
Difração de raios X é um fenômeno no qual os átomos de um cristal, em virtude de seu espaçamento uniforme, causam um padrão de interferência das ondas presentes em um feixe incidente de raios X. É uma técnica usada para determinar a estrutura atômica e molecular de um cristal, na qual os átomos cristalinos fazem com que um feixe de raios X incidentes difrate em muitas direções específicas. Medindo os ângulos e as intensidades dos feixes difratados, um cristalógrafo pode produzir uma imagem tridimensional da densidade de elétrons dentro do cristal. A partir desta densidade de elétrons, as posições médias dos átomos no cristal podem ser determinadas, bem como suas ligações químicas, sua desordem e várias outras informações. O material analisado é finamente triturado, homogeneizado e a compos
rdf:langString
rdf:langString
حيود الأشعة السينية
rdf:langString
Röntgenbeugung
rdf:langString
Díraonadh X-ghathanna
rdf:langString
X線回折
rdf:langString
엑스선 회절
rdf:langString
Difração de raios X
rdf:langString
X-ray diffraction
rdf:langString
Дифракція рентгенівських променів
xsd:integer
9917583
xsd:integer
743838407
rdf:langString
تقنيات حيود الأشعة السينية هي عائلة من التقنيات التحليلية اللاتلافية التي تعطي معلومات حول البنية البلورية، والتركيب الكيميائي، والخواص الفيزيائية للمواد والطبقات الرقيقة للمواد البلورية. تعتمد هذه التقنيات على مراقبة تبعثر شدة حزمة من الأشعة السينية الساقطة على العينة كتابع لزاوية السقوط والتبعثر، والاستقطاب، وطول الموجة أو القدرة.
rdf:langString
Röntgenbeugung, auch Röntgendiffraktion (englisch X-ray diffraction, XRD) genannt, ist die Beugung von Röntgenstrahlung an geordneten Strukturen wie Kristallen oder Quasikristallen. Grundsätzlich zeigt Röntgenstrahlung die gleichen Beugungserscheinungen wie Licht und alle anderen elektromagnetischen Wellen. Röntgenbeugung wird in der Materialphysik, der Kristallographie, der Chemie und der Biochemie eingesetzt, um die Struktur von Kristallen zu untersuchen, die sogenannte Röntgendiffraktometrie. Beispielsweise spielten Ergebnisse der Röntgenstreuung eine wichtige Rolle bei der Strukturanalyse der DNS. Die dazu eingesetzten Geräte waren ursprünglich Röntgenkameras, die Beugungsbilder auf handelsüblichen Röntgenfilmen festhielten, heute werden überwiegend Röntgendiffraktometer mit Zählrohren, Flächendetektoren o. ä. verwendet.
rdf:langString
Iarmhairt trasnaíochta ina scaipeann na hadaimh in ábhar X-ghathanna chun patrún de spotaí nó fáinní comhlárnacha a dhéanamh. Is féidir na patrúin seo a thaifeadadh agus a n-ionaid is a ndéiní a anailísiú chun struchtúr adamhach an ábhair a dhéanamh amach, modh oibre a d'fhionn Max von Laue i 1912.
rdf:langString
X線回折（エックスせんかいせつ、英: X‐ray diffraction、XRD）は、X線が結晶格子で回折を示す現象である。 1912年にドイツのマックス・フォン・ラウエがこの現象を発見し、X線の正体が波長の短い電磁波であることを明らかにした。 逆にこの現象を利用して物質の結晶構造を調べることが可能である。このようにX線の回折の結果を解析して結晶内部で原子がどのように配列しているかを決定する手法をX線結晶構造解析あるいはX線回折法という。しばしばこれをX線回折と略して呼ぶ。他に同じように回折現象を利用する結晶構造解析の手法として、電子回折法や中性子回折法がある。
rdf:langString
엑스선 회절(X‐ray diffraction, XRD) 또는 X선 회절은 결정격자를 통과한 X선의 회절을 나타낸 영상이다. 1912년 막스 폰 라우에가 이 현상을 발견하여 X선이 사실은 파장이 짧은 전자기파라는 것을 밝혔다. 거꾸로 이 현상을 이용해 물질의 결정 구조를 조사하는 것이 가능하다. 이러한 X선 회절의 결과를 해석해 결정 내부의 원자가 어떤 배열을 하고 있는가를 밝히는 방법을 'X선 결정구조해석' 또는 'X선 회절법'이라 한다. 이 외에 회절현상을 이용한 결정구조해석의 방법으로 전자회절법, 등이 있다.
rdf:langString
Difração de raios X é um fenômeno no qual os átomos de um cristal, em virtude de seu espaçamento uniforme, causam um padrão de interferência das ondas presentes em um feixe incidente de raios X. É uma técnica usada para determinar a estrutura atômica e molecular de um cristal, na qual os átomos cristalinos fazem com que um feixe de raios X incidentes difrate em muitas direções específicas. Medindo os ângulos e as intensidades dos feixes difratados, um cristalógrafo pode produzir uma imagem tridimensional da densidade de elétrons dentro do cristal. A partir desta densidade de elétrons, as posições médias dos átomos no cristal podem ser determinadas, bem como suas ligações químicas, sua desordem e várias outras informações. O material analisado é finamente triturado, homogeneizado e a composição média em massa é determinada (difração de raios X em pó).
xsd:nonNegativeInteger
58