Fault coverage
http://dbpedia.org/resource/Fault_coverage an entity of type: Artifact100021939
錯誤涵蓋率（Fault coverage）也稱為故障覆蓋率，是指在一工程系統中，某種故障可以被偵測到的百分比。工廠的生產測試會希望有高錯誤涵蓋率的結果，像可测试性设计（DFT）及自動測試圖樣產生（ATPG）等技術的目的也是為了提高錯誤涵蓋率。 例如在电子学中，固定型故障涵蓋率的偵測方式就是在硬體模型中將分別每一個針腳固定為邏輯0及邏輯1的準位，然後執行測試向量。若至少有一個輸出暫存器和預期的輸出不同，就算是有偵測到此故障。在概念上，模擬執行的總數會恰好是針腳數量的二倍（理想上，需要測試到每一個針腳固定為邏輯0及邏輯1的情形），不過有許多最佳化可以減少需要的計算量。而且，許多沒有交互作用的故障可以同時在一次測試中一起模擬，只要偵測到故障，模擬就可以結束。 錯誤涵蓋率的測試通過條件是所有可能故障中，至少可以偵測一定百分比的故障。若沒有通過，有以下三個選擇。設計者可以擴充或是提昇測試向量集，也許是用更有效的ATPG工具。第二個選擇是重新規劃電路，提昇故障偵測能力（提高可控制性及可觀察性）。第三個選擇是接受較低的錯誤涵蓋率。
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Fault coverage refers to the percentage of some type of fault that can be detected during the test of any engineered system. High fault coverage is particularly valuable during manufacturing test, and techniques such as Design For Test (DFT) and automatic test pattern generation are used to increase it.
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Cobertura de falhas se refere à porcentagem de algum tipo de falha que possa ser detectada durante o teste de qualquer sistema projetado. A alta cobertura de falhas é particularmente valiosa durante o teste de fabricação, e técnicas como (DFT) e são usadas para aumentá-la.
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Fault coverage
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Cobertura de falhas
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錯誤涵蓋率
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Fault coverage refers to the percentage of some type of fault that can be detected during the test of any engineered system. High fault coverage is particularly valuable during manufacturing test, and techniques such as Design For Test (DFT) and automatic test pattern generation are used to increase it. In electronics for example, stuck-at fault coverage is measured by sticking each pin of the hardware model at logic '0' and logic '1', respectively, and running the test vectors. If at least one of the outputs differs from what is to be expected, the fault is said to be detected. Conceptually, the total number of simulation runs is twice the number of pins (since each pin is stuck in one of two ways, and both faults should be detected). However, there are many optimizations that can reduce the needed computation. In particular, often many non-interacting faults can be simulated in one run, and each simulation can be terminated as soon as a fault is detected. A fault coverage test passes when at least a specified percentage of all possible faults can be detected. If it does not pass, at least three options are possible. First, the designer can augment or otherwise improve the vector set, perhaps by using a more effective automatic test pattern generation tool. Second, the circuit may be re-defined for better fault detectibility (improved controllability and observability). Third, the designer may simply accept the lower coverage.
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Cobertura de falhas se refere à porcentagem de algum tipo de falha que possa ser detectada durante o teste de qualquer sistema projetado. A alta cobertura de falhas é particularmente valiosa durante o teste de fabricação, e técnicas como (DFT) e são usadas para aumentá-la. Na eletrônica, por exemplo, a cobertura de é medida colando cada pino do modelo de hardware na lógica '0' e lógica '1', respectivamente, e executando os vetores de teste. Se pelo menos uma das saídas difere do que se espera, a falha é considerada detectada. Conceitualmente, o número total de execuções de simulação é duas vezes o número de pinos (uma vez que cada pino está preso em uma das duas maneiras, e ambas as falhas devem ser detectadas). No entanto, existem muitas otimizações que podem reduzir a computação necessária. Em particular, muitas vezes muitas falhas não interagentes podem ser simuladas em uma execução e cada simulação pode ser encerrada assim que uma falha for detectada. Um teste de cobertura de falha passa quando pelo menos uma porcentagem especificada de todas as falhas possíveis pode ser detectada. Se não passar, pelo menos três opções são possíveis. Primeiro, o designer pode aumentar ou melhorar o conjunto de vetores, talvez usando uma ferramenta de geração automática de padrão de teste mais eficaz. Em segundo lugar, o circuito pode ser redefinido para melhor detecção de falhas (maior capacidade de controle e observação). Terceiro, o projetista pode simplesmente aceitar a cobertura mais baixa.
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錯誤涵蓋率（Fault coverage）也稱為故障覆蓋率，是指在一工程系統中，某種故障可以被偵測到的百分比。工廠的生產測試會希望有高錯誤涵蓋率的結果，像可测试性设计（DFT）及自動測試圖樣產生（ATPG）等技術的目的也是為了提高錯誤涵蓋率。 例如在电子学中，固定型故障涵蓋率的偵測方式就是在硬體模型中將分別每一個針腳固定為邏輯0及邏輯1的準位，然後執行測試向量。若至少有一個輸出暫存器和預期的輸出不同，就算是有偵測到此故障。在概念上，模擬執行的總數會恰好是針腳數量的二倍（理想上，需要測試到每一個針腳固定為邏輯0及邏輯1的情形），不過有許多最佳化可以減少需要的計算量。而且，許多沒有交互作用的故障可以同時在一次測試中一起模擬，只要偵測到故障，模擬就可以結束。 錯誤涵蓋率的測試通過條件是所有可能故障中，至少可以偵測一定百分比的故障。若沒有通過，有以下三個選擇。設計者可以擴充或是提昇測試向量集，也許是用更有效的ATPG工具。第二個選擇是重新規劃電路，提昇故障偵測能力（提高可控制性及可觀察性）。第三個選擇是接受較低的錯誤涵蓋率。
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3315