Wavelength-dispersive X-ray spectroscopy
http://dbpedia.org/resource/Wavelength-dispersive_X-ray_spectroscopy an entity of type: Software
Die wellenlängendispersive Röntgenspektroskopie (Abkürzung: WDS oder auch WDX) dient der Analyse der charakteristischen Röntgenstrahlung, welche von einer Probe (z. B. aufgrund des Beschusses mit einem Elektronenstrahl) emittiert wird. Auf diese Weise sind alle Elemente mit einer Ordnungszahl von wenigstens 4 (Beryllium) detektierbar. Die relative Nachweisgrenze beträgt bei Elementen 0,01 Gewichtsprozent, was einer absoluten Nachweisgrenze von 10−14 bis 10−15 g entspricht. Das Verfahren gehört zur Gruppe der Röntgenspektroskopien, es ist eng verwandt mit der energiedispersiven Röntgenspektroskopie (EDS oder auch EDX).
rdf:langString
L'analyse spectrale d'un rayonnement électromagnétique fait souvent intervenir une dispersion angulaire dépendant de la longueur d'onde ; c'est l'analyse dispersive en longueur d'onde. Pour la lumière visible, il existe deux manières de faire : avec un prisme ou avec un réseau de diffraction optique. Pour les rayons X, cela se fait par diffraction sur un monocristal. La méthode porte alors le nom de spectroscopie de rayons X à dispersion de longueur d'onde (wavelength-dispersive X-ray spectroscopy, WDXS ou WDS, en anglais), et spectroscopie de fluorescence de rayons X à dispersion de longueur d'onde (wavelength dispersive X-ray fluorescence spectroscopy, WDXRF, en anglais) pour l'application en spectrométrie de fluorescence des rayons X.
rdf:langString
波長分散型X線分析 (はちょうぶんさんがたエックスせんぶんせき、length dispersive X-ray spectrometry) は、広義の意味として、電子線やX線などの一次線を物体に照射した際に発生する特性X線もしくは蛍光X線を分光結晶を介して検出器にて検出し、その波長分布から、物体を構成する元素と濃度を調べる元素分析手法である。一般的に、電子線を一次線として用いた場合を指すことが多く、X線を一次線として用いる場合を波長分散型蛍光X線分析 (WD-XRF) として呼ぶ。ちなみに、一次線が荷電粒子の場合は、粒子線励起X線分析法 (PIXE: Particle Induced X-ray Emission) と呼ぶ。 この分析法は、エネルギー分解能が高く、検出感度が高いので、精密な分析に有効である。しかしながら、WDSは分光結晶の角度を変えながら測定するのでに時間がかかり、複数元素の同時分析ができず、大きなプローブ電流が必要である。高精度かつ全元素を分析を行いたい場合に、エネルギー分散型X線分析(EDS)とWDSを併用して用いる場合がある。
rdf:langString
Wavelength-dispersive X-ray spectroscopy (WDXS or WDS) is a non-destructive analysis technique used to obtain elemental information about a range of materials by measuring characteristic x-rays within a small wavelength range. The technique generates a spectrum in which the peaks correspond to specific x-ray lines and elements can be easily identified. WDS is primarily used in chemical analysis, wavelength dispersive X-ray fluorescence (WDXRF) spectrometry, electron microprobes, scanning electron microscopes, and high precision experiments for testing atomic and plasma physics.
rdf:langString
Метод дисперсионной рентгеновской спектроскопии по длине волны (ДРСДВ) (англ. Wavelength dispersive X-ray spectroscopy, WDXRF или WDS) — аналитическая методика элементного анализа твёрдого вещества, базирующаяся на анализе максимумов по их расположению (длина волны эмиссии) и интенсивности её рентгеновского спектра, вариант рентгеноспектрального анализа. С помощью ДРСДВ-методики можно количественно и качественно определить элементы в исследуемом материале начиная с атомного номера 4 — (Бериллий). Нижняя граница определения наличия элемента при этом составляет 0.01 весового процента, что в абсолютных числах составляет 10−14 до 10−15 грамма.
rdf:langString
Метод дисперсійної рентгенівської спектроскопії за довжиною хвилі (англ. Wavelength dispersive X-ray spectroscopy, WDXRF чи WDS) — аналітична методика елементного аналізу твердої речовини, що базується на аналізі максимумів за їх розміщенням (довжина хвилі емісії) та інтенсивністю її рентгенівського спектру. За допомогою WDS методики можна кількісно і якісно визначати елементи у досліджуваному матеріалі починаючи з атомного номера 4 — (Берилій). Нижня межа визначення елемента при цьому становить 0.01 вагового процента, що в абсолютних числах становить 10−14 до 10−15 грама.
rdf:langString
波长色散X射线光谱（Wavelength-dispersive X-ray spectroscopy，WDXS或WDS）是一种非破坏性分析技术，可通过测量小波长范围内的特征X射线来获得样品的元素组成信息。该技术产生的光谱中的峰对应于元素的特征X射线，借此可以容易地识别元素。波长色散X射线光谱主要用于化学分析、电子微探针、扫描电子显微镜以及测试原子和等离子体物理的高精度实验。
rdf:langString
rdf:langString
Wellenlängendispersive Röntgenspektroskopie
rdf:langString
Analyse dispersive en longueur d'onde
rdf:langString
波長分散型X線分析
rdf:langString
Метод дисперсионной рентгеновской спектроскопии по длине волны
rdf:langString
Wavelength-dispersive X-ray spectroscopy
rdf:langString
波长色散X射线光谱
rdf:langString
Метод дисперсійної рентгенівської спектроскопії за довжиною хвилі
rdf:langString
Wavelength-dispersive X-ray spectroscopy
xsd:integer
682635
xsd:integer
1120004967
rdf:langString
Anton Paar, Bruker AXS, Hecus, Malvern Panalytical, Rigaku Corporation, Xenocs, CAMECA, JEOL, Oxford Instruments
rdf:langString
Spectroscopy
rdf:langString
Die wellenlängendispersive Röntgenspektroskopie (Abkürzung: WDS oder auch WDX) dient der Analyse der charakteristischen Röntgenstrahlung, welche von einer Probe (z. B. aufgrund des Beschusses mit einem Elektronenstrahl) emittiert wird. Auf diese Weise sind alle Elemente mit einer Ordnungszahl von wenigstens 4 (Beryllium) detektierbar. Die relative Nachweisgrenze beträgt bei Elementen 0,01 Gewichtsprozent, was einer absoluten Nachweisgrenze von 10−14 bis 10−15 g entspricht. Das Verfahren gehört zur Gruppe der Röntgenspektroskopien, es ist eng verwandt mit der energiedispersiven Röntgenspektroskopie (EDS oder auch EDX).
rdf:langString
L'analyse spectrale d'un rayonnement électromagnétique fait souvent intervenir une dispersion angulaire dépendant de la longueur d'onde ; c'est l'analyse dispersive en longueur d'onde. Pour la lumière visible, il existe deux manières de faire : avec un prisme ou avec un réseau de diffraction optique. Pour les rayons X, cela se fait par diffraction sur un monocristal. La méthode porte alors le nom de spectroscopie de rayons X à dispersion de longueur d'onde (wavelength-dispersive X-ray spectroscopy, WDXS ou WDS, en anglais), et spectroscopie de fluorescence de rayons X à dispersion de longueur d'onde (wavelength dispersive X-ray fluorescence spectroscopy, WDXRF, en anglais) pour l'application en spectrométrie de fluorescence des rayons X.
rdf:langString
波長分散型X線分析 (はちょうぶんさんがたエックスせんぶんせき、length dispersive X-ray spectrometry) は、広義の意味として、電子線やX線などの一次線を物体に照射した際に発生する特性X線もしくは蛍光X線を分光結晶を介して検出器にて検出し、その波長分布から、物体を構成する元素と濃度を調べる元素分析手法である。一般的に、電子線を一次線として用いた場合を指すことが多く、X線を一次線として用いる場合を波長分散型蛍光X線分析 (WD-XRF) として呼ぶ。ちなみに、一次線が荷電粒子の場合は、粒子線励起X線分析法 (PIXE: Particle Induced X-ray Emission) と呼ぶ。 この分析法は、エネルギー分解能が高く、検出感度が高いので、精密な分析に有効である。しかしながら、WDSは分光結晶の角度を変えながら測定するのでに時間がかかり、複数元素の同時分析ができず、大きなプローブ電流が必要である。高精度かつ全元素を分析を行いたい場合に、エネルギー分散型X線分析(EDS)とWDSを併用して用いる場合がある。
rdf:langString
Wavelength-dispersive X-ray spectroscopy (WDXS or WDS) is a non-destructive analysis technique used to obtain elemental information about a range of materials by measuring characteristic x-rays within a small wavelength range. The technique generates a spectrum in which the peaks correspond to specific x-ray lines and elements can be easily identified. WDS is primarily used in chemical analysis, wavelength dispersive X-ray fluorescence (WDXRF) spectrometry, electron microprobes, scanning electron microscopes, and high precision experiments for testing atomic and plasma physics.
rdf:langString
Метод дисперсионной рентгеновской спектроскопии по длине волны (ДРСДВ) (англ. Wavelength dispersive X-ray spectroscopy, WDXRF или WDS) — аналитическая методика элементного анализа твёрдого вещества, базирующаяся на анализе максимумов по их расположению (длина волны эмиссии) и интенсивности её рентгеновского спектра, вариант рентгеноспектрального анализа. С помощью ДРСДВ-методики можно количественно и качественно определить элементы в исследуемом материале начиная с атомного номера 4 — (Бериллий). Нижняя граница определения наличия элемента при этом составляет 0.01 весового процента, что в абсолютных числах составляет 10−14 до 10−15 грамма.
rdf:langString
Метод дисперсійної рентгенівської спектроскопії за довжиною хвилі (англ. Wavelength dispersive X-ray spectroscopy, WDXRF чи WDS) — аналітична методика елементного аналізу твердої речовини, що базується на аналізі максимумів за їх розміщенням (довжина хвилі емісії) та інтенсивністю її рентгенівського спектру. За допомогою WDS методики можна кількісно і якісно визначати елементи у досліджуваному матеріалі починаючи з атомного номера 4 — (Берилій). Нижня межа визначення елемента при цьому становить 0.01 вагового процента, що в абсолютних числах становить 10−14 до 10−15 грама.
rdf:langString
波长色散X射线光谱（Wavelength-dispersive X-ray spectroscopy，WDXS或WDS）是一种非破坏性分析技术，可通过测量小波长范围内的特征X射线来获得样品的元素组成信息。该技术产生的光谱中的峰对应于元素的特征X射线，借此可以容易地识别元素。波长色散X射线光谱主要用于化学分析、电子微探针、扫描电子显微镜以及测试原子和等离子体物理的高精度实验。
rdf:langString
WDS
rdf:langString
WDXS
rdf:langString
Elements in solids, liquids, powders and thin films
xsd:nonNegativeInteger
6101
