Scanning electrochemical microscopy
http://dbpedia.org/resource/Scanning_electrochemical_microscopy an entity of type: TopicalConcept
扫描电化学显微镜（缩写SECM）基于电化学原理工作，可测量微区内物质氧化或还原所给出的电化学电流。 利用驱动非常小的电极（探针）在靠近样品处进行扫描，样品可以是导体、绝缘体或半导体，从而获得对应的微区电化学和相关信息，目前可达到的最高分辨率约为几十纳米。
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Elektrochemische Scan-Mikroskopie (englisch scanning electrochemical microscopy, SECM) ist eine Technik aus der größeren Klasse der Rastersondenmikroskopie, die man anwendet, um das Verhalten von Phasengrenzen flüssig/fest, flüssig/gasförmig und fest/fest zu untersuchen. Die Anfänge dieser Methode gehen auf Allen J. Bard, einen Elektrochemiker der Universität Texas zurück.Seitdem die Technik auch theoretisch untermauert wurde, fand sie breite Anwendung in Chemie, Biologie und Materialwissenschaften. Hochaufgelöste elektrochemische Signale können aufgezeichnet werden, indem man mit einer (UME) den Strom als eine Funktion der Position mit der Elektrodenspitze an der betreffenden Stelle des Substrates misst. Die Interpretation des SECM-Signals basiert auf dem Konzept des diffusionsbegrenzten
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Scanning electrochemical microscopy (SECM) is a technique within the broader class of scanning probe microscopy (SPM) that is used to measure the local electrochemical behavior of liquid/solid, liquid/gas and liquid/liquid interfaces. Initial characterization of the technique was credited to University of Texas electrochemist, Allen J. Bard, in 1989.Since then, the theoretical underpinnings have matured to allow widespread use of the technique in chemistry, biology and materials science. Spatially resolved electrochemical signals can be acquired by measuring the current at an ultramicroelectrode (UME) tip as a function of precise tip position over a substrate region of interest. Interpretation of the SECM signal is based on the concept of diffusion-limited current. Two-dimensional raster s
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A microscopia eletroquímica de varredura (SECM) consiste fundamentalmente de um sistema de posicionamento de alta resolução, um (bi)potenciostato, um microcomputador e uma célula eletroquímica. O sistema de posicionamento SECM inclui os elementos de posicionamento piezoelétricos bem como um sistema de motores de passo com elevada resolução espacial. Esse sistema controla o deslocamento do microeletrodo nas coordenadas x, y e z, assim como, a velocidade de passo do microeletrodo sobre a superfície de interesse (BARKER et al., 1999; BARD; MIRKIN, 2001).
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Elektrochemische Scan-Mikroskopie
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Scanning electrochemical microscopy
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Microscopia eletroquímica de varredura
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扫描电化学显微镜
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Elektrochemische Scan-Mikroskopie (englisch scanning electrochemical microscopy, SECM) ist eine Technik aus der größeren Klasse der Rastersondenmikroskopie, die man anwendet, um das Verhalten von Phasengrenzen flüssig/fest, flüssig/gasförmig und fest/fest zu untersuchen. Die Anfänge dieser Methode gehen auf Allen J. Bard, einen Elektrochemiker der Universität Texas zurück.Seitdem die Technik auch theoretisch untermauert wurde, fand sie breite Anwendung in Chemie, Biologie und Materialwissenschaften. Hochaufgelöste elektrochemische Signale können aufgezeichnet werden, indem man mit einer (UME) den Strom als eine Funktion der Position mit der Elektrodenspitze an der betreffenden Stelle des Substrates misst. Die Interpretation des SECM-Signals basiert auf dem Konzept des diffusionsbegrenzten elektrischen Stroms. Zweidimensionale Rasterscan-Informationen können verwendet werden, um Bilder der Oberflächenreaktivität und der chemischen Kinetik zu messen. Eine ergänzende Methode zur Oberflächencharakterisierung ist die Oberflächenplasmonenresonanzspektroskopie, Elektrochemische Rastertunnelmikroskopie (ESTM), die Rasterkraftmikroskopie, auch atomare Kraftmikroskopie oder Atomkraftmikroskopie (engl.atomic/scanning force microscopy, Abkürzung (AFM)), bei der Untersuchung von verschiedenen Oberflächenphänomenen. Zusätzlich zum Gewinn an Information über die Oberflächenstruktur wird SECM oft verwendet, um die Oberflächenreaktivität von Feststoffen, elektrochemisch wirksamen Katalysatoren, Enzymen und anderen biophysikalischen Systemen zu testen. SECM und Variationen der Technik wurden verwendet bei Mikrofabrikation, Oberflächenveredelung und Mikrostrukturierung.
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Scanning electrochemical microscopy (SECM) is a technique within the broader class of scanning probe microscopy (SPM) that is used to measure the local electrochemical behavior of liquid/solid, liquid/gas and liquid/liquid interfaces. Initial characterization of the technique was credited to University of Texas electrochemist, Allen J. Bard, in 1989.Since then, the theoretical underpinnings have matured to allow widespread use of the technique in chemistry, biology and materials science. Spatially resolved electrochemical signals can be acquired by measuring the current at an ultramicroelectrode (UME) tip as a function of precise tip position over a substrate region of interest. Interpretation of the SECM signal is based on the concept of diffusion-limited current. Two-dimensional raster scan information can be compiled to generate images of surface reactivity and chemical kinetics. The technique is complementary to other surface characterization methods such as surface plasmon resonance (SPR),electrochemical scanning tunneling microscopy (ESTM), and atomic force microscopy (AFM) in the interrogation of various interfacial phenomena. In addition to yielding topographic information, SECM is often used to probe the surface reactivity of solid-state materials, electrocatalyst materials, enzymes and other biophysical systems.SECM and variations of the technique have also found use in microfabrication, surface patterning, and microstructuring.
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A microscopia eletroquímica de varredura (SECM) consiste fundamentalmente de um sistema de posicionamento de alta resolução, um (bi)potenciostato, um microcomputador e uma célula eletroquímica. O sistema de posicionamento SECM inclui os elementos de posicionamento piezoelétricos bem como um sistema de motores de passo com elevada resolução espacial. Esse sistema controla o deslocamento do microeletrodo nas coordenadas x, y e z, assim como, a velocidade de passo do microeletrodo sobre a superfície de interesse (BARKER et al., 1999; BARD; MIRKIN, 2001). Nas últimas décadas o interesse no entendimento de processos superficiais e interfaciais tem suscitado uma intensa pesquisa na área de desenvolvimento de técnicas microscópicas aplicáveis aos mais variados tipos de superfícies. No início da década de 80 foram delineados os primeiros avanços relacionados ao desenvolvimento de técnicas microscópicas baseadas em varredura por sonda (SPM do inglês Scanning Probe Microscopy). Tais técnicas foram projetadas para operar pontas de prova cujas dimensões são próximas à escala atômica de forma que a mesma seja apta a atuar como sonda para o estudo de processos físicos e/ou químicos de superfícies e interfaces com elevada resolução (OPHUS et al., 2016; LIANG et al., 2016). A aquisição de dados tem inicio com o uso de um (bi)potenciostato, que controla o potencial elétrico aplicado ao microeletrodo, e amplifica o seu sinal. Após a amplificação, o sinal é adquirido com um conversor analógico para digital e armazenado em um microcomputador. O software do computador é necessário para controlar o sistema de aquisição de dados e de posicionamento, bem como para apresentar e analisar os dados SECM (WITTSTOCK et al., 2007; BARD; MIRKIN, 2012).
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扫描电化学显微镜（缩写SECM）基于电化学原理工作，可测量微区内物质氧化或还原所给出的电化学电流。 利用驱动非常小的电极（探针）在靠近样品处进行扫描，样品可以是导体、绝缘体或半导体，从而获得对应的微区电化学和相关信息，目前可达到的最高分辨率约为几十纳米。
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