Low-energy electron diffraction
http://dbpedia.org/resource/Low-energy_electron_diffraction an entity of type: TopicalConcept
La difracció d'electrons de baixa energia o LEED (low-energy electron diffraction) és una tècnica analítica mitjançant la qual es poden estudiar superfícies a escala atòmica mitjançant el bombardeig d'electrons lents. Amb aquesta tècnica es mesura la distribució angular de la intensitat dels electrons reflectits des d'una superfície cristal·lina d'un monocristall bombardejada amb electrons de baixa energia (energies menors que els 500 eV) amb angles d'incidència més grans. La figura de difracció proporciona informació molt detallada sobre la disposició atòmica de les capes més externes del sòlid.
rdf:langString
Der englische Begriff Low-Energy Electron Diffraction (LEED, dt. „Beugung niederenergetischer Elektronen an Oberflächen“) bezeichnet eine physikalische Methode zur Untersuchung der Anordnung von Atomen an Oberflächen und in dünnen Filmen. Man nutzt hierbei den grundlegenden Effekt der Interferenz von Wellen gleicher Wellenlänge aus. Dieser führt zur Ausbildung von Beugungsmustern, die auf einem Beobachtungsschirm sichtbar gemacht werden. LEED wird in der Oberflächenphysik und Oberflächenchemie benutzt.
rdf:langString
低速電子線回折（ていそくでんしせんかいせつ、英: low-energy electron diffraction、LEED）は電子回折法の一種であり、電子をに照射し、それが回折される様子を観察することで、固体の表面構造を解析する技術である。利用される電子のエネルギーが低い（20 - 200 eV）点で、同じ原理を用いた分析法である反射高速電子線回折（RHEED）（数 - 100 keV）と区別される。
rdf:langString
Дифракція повільних електронів скор., ДПЕ, ДЕНЕ інакше дифракція електронів низької енергії (англ. low-energy electron diffraction скор., LEED) — метод дослідження структури поверхні твердих тіл, заснований на аналізі картин дифракції низькоенергетичних електронів з енергією 30-200 еВ, пружно розсіяних від досліджуваної поверхні. Дозволяє вивчати суперструктуру поверхні.
rdf:langString
低能电子衍射（英語：Low-energy electron diffraction，LEED）是一种用以测定单晶表面结构的实验手段，使用的低能电子束（20–200 eV）轰击样品表面，可在荧光屏上观测到被衍射的电子所形成的光斑，进而表征样品的表面结构。 低能电子衍射有以下两种应用方式： 1.
* 定性分析：着眼于衍射图案与衍射光斑位置的分析，可获得表面结构的对称性。若表面有吸附物，定性分析可确定吸附物的单位晶格与基底单位晶格的相对大小及方向。 2.
* 定量分析：着眼于衍射电子束的强度与入射电子束能量的关系，将此关系（LEED I-V 曲线）与理论预测相比较，可获得表面原子确切的位置信息。
rdf:langString
Low-energy electron diffraction (LEED) is a technique for the determination of the surface structure of single-crystalline materials by bombardment with a collimated beam of low-energy electrons (30–200 eV) and observation of diffracted electrons as spots on a fluorescent screen. LEED may be used in one of two ways:
rdf:langString
La diffraction d'électrons lents (low-energy electron diffraction, LEED) est une technique de détermination de la structure cristalline d'une surface par bombardement à l'aide d'un faisceau monochromatique et collimaté d'électrons lents (20-200 eV) dont on observe la figure de diffraction sur un écran fluorescent. Le LEED peut être utilisé de deux façons :
rdf:langString
La diffrazione di elettroni a bassa energia (in sigla LEED, dall'inglese low-energy electron diffraction), o diffrazione di elettroni lenti, è una tecnica per determinare la struttura superficiale di materiali monocristallini per mezzo del bombardamento con un fascio collimato di elettroni di bassa energia (30–200 eV) e della successiva osservazione degli elettroni diffratti, visibili come macchie su uno schermo fluorescente. La LEED può essere usata in due modi:
rdf:langString
LEED of Laagenergetische elektrondiffractie (Engels: low-energy electron diffraction), is een fysische methode om de wijze van adsorptie van gasatomen aan de oppervlakte te bestuderen. Het berust op het principe van de interferentie van elektronengolven. De interferentie zorgt voor een duidelijk rooster op een scherm.
rdf:langString
Dyfrakcja elektronów o niskiej energii, dyfrakcja elektronów niskoenergetycznych (używany jest skrótowiec LEED od (ang. low-energy electron diffraction) – stosowana w celu określenia struktury powierzchni materiałów krystalicznych technika badawcza polegająca na bombardowaniu powierzchni skolimowaną wiązką elektronów o niskiej energii (20–200 eV) i obserwacji dyfrakcji elektronów na ekranie fluorescencyjnym. Eksperyment przeprowadza się w warunkach ultrawysokiej i czystej próżni, rzędu 10-9 mbar, niezbędnej do zachowania drogi swobodnej elektronów w całym układzie pomiarowym.
rdf:langString
Дифракция медленных электронов (ДМЭ) — метод исследования поверхностной структуры твердых тел, основанный на анализе дифракционных картин, упруго рассеянных низкоэнергетичных (20–200 эВ) электронов. Позволяет изучать реконструкцию поверхности. ДМЭ может быть использована одним из двух способов:
rdf:langString
rdf:langString
Difracció d'electrons de baixa energia
rdf:langString
Low-Energy Electron Diffraction
rdf:langString
Diffraction d’électrons lents
rdf:langString
Diffrazione di elettroni a bassa energia
rdf:langString
Low-energy electron diffraction
rdf:langString
低速電子線回折
rdf:langString
Laagenergetische elektrondiffractie
rdf:langString
Dyfrakcja elektronów niskiej energii
rdf:langString
Дифракция медленных электронов
rdf:langString
低能电子衍射
rdf:langString
Дифракція повільних електронів
xsd:integer
4692179
xsd:integer
1117766845
rdf:langString
s
rdf:langString
∗
rdf:langString
La difracció d'electrons de baixa energia o LEED (low-energy electron diffraction) és una tècnica analítica mitjançant la qual es poden estudiar superfícies a escala atòmica mitjançant el bombardeig d'electrons lents. Amb aquesta tècnica es mesura la distribució angular de la intensitat dels electrons reflectits des d'una superfície cristal·lina d'un monocristall bombardejada amb electrons de baixa energia (energies menors que els 500 eV) amb angles d'incidència més grans. La figura de difracció proporciona informació molt detallada sobre la disposició atòmica de les capes més externes del sòlid.
rdf:langString
Der englische Begriff Low-Energy Electron Diffraction (LEED, dt. „Beugung niederenergetischer Elektronen an Oberflächen“) bezeichnet eine physikalische Methode zur Untersuchung der Anordnung von Atomen an Oberflächen und in dünnen Filmen. Man nutzt hierbei den grundlegenden Effekt der Interferenz von Wellen gleicher Wellenlänge aus. Dieser führt zur Ausbildung von Beugungsmustern, die auf einem Beobachtungsschirm sichtbar gemacht werden. LEED wird in der Oberflächenphysik und Oberflächenchemie benutzt.
rdf:langString
Low-energy electron diffraction (LEED) is a technique for the determination of the surface structure of single-crystalline materials by bombardment with a collimated beam of low-energy electrons (30–200 eV) and observation of diffracted electrons as spots on a fluorescent screen. LEED may be used in one of two ways: 1.
* Qualitatively, where the diffraction pattern is recorded and analysis of the spot positions gives information on the symmetry of the surface structure. In the presence of an adsorbate the qualitative analysis may reveal information about the size and rotational alignment of the adsorbate unit cell with respect to the substrate unit cell. 2.
* Quantitatively, where the intensities of diffracted beams are recorded as a function of incident electron beam energy to generate the so-called I–V curves. By comparison with theoretical curves, these may provide accurate information on atomic positions on the surface at hand.
rdf:langString
La diffraction d'électrons lents (low-energy electron diffraction, LEED) est une technique de détermination de la structure cristalline d'une surface par bombardement à l'aide d'un faisceau monochromatique et collimaté d'électrons lents (20-200 eV) dont on observe la figure de diffraction sur un écran fluorescent. Le LEED peut être utilisé de deux façons : 1.
* Qualitativement : la figure de diffraction est observée sur l'écran et la position des spots donne des informations sur la symétrie de la structure atomique en surface. En présence d'éléments adsorbés de façon périodique sur le réseau, l'analyse qualitative peut révéler des informations sur la taille et la position des adsorbats par comparaison avec la figure du cristal pur. 2.
* Quantitativement : les intensités des spots peuvent être mesurées en fonction de l'énergie des électrons incidents et donnent une courbe intensité-tension. Par comparaison avec une courbe théorique, on peut remonter avec précision à la position des atomes sur la surface.
rdf:langString
低速電子線回折（ていそくでんしせんかいせつ、英: low-energy electron diffraction、LEED）は電子回折法の一種であり、電子をに照射し、それが回折される様子を観察することで、固体の表面構造を解析する技術である。利用される電子のエネルギーが低い（20 - 200 eV）点で、同じ原理を用いた分析法である反射高速電子線回折（RHEED）（数 - 100 keV）と区別される。
rdf:langString
La diffrazione di elettroni a bassa energia (in sigla LEED, dall'inglese low-energy electron diffraction), o diffrazione di elettroni lenti, è una tecnica per determinare la struttura superficiale di materiali monocristallini per mezzo del bombardamento con un fascio collimato di elettroni di bassa energia (30–200 eV) e della successiva osservazione degli elettroni diffratti, visibili come macchie su uno schermo fluorescente. La LEED può essere usata in due modi: 1.
* Qualitativamente, dove la figura di diffrazione è registrata e l'analisi della posizione delle macchie dà informazioni sulla simmetria della struttura superficiale. In presenza di un adsorbato l'analisi qualitativa potrebbe rivelare informazioni sulla grandezza e sull'allineamento rotazionale della cella unitaria dell'adsorbato rispetto alla cella unitaria del substrato. 2.
* Quantitativamente, dove le intensità dei fasci diffratti sono registrate in funzione dell'energia del fascio degli elettroni incidenti per generare le cosiddette curve I–V. Tramite il confronto con le curve teoriche, queste potrebbero fornire informazioni accurate sulle posizioni atomiche nella superficie in analisi.
rdf:langString
Dyfrakcja elektronów o niskiej energii, dyfrakcja elektronów niskoenergetycznych (używany jest skrótowiec LEED od (ang. low-energy electron diffraction) – stosowana w celu określenia struktury powierzchni materiałów krystalicznych technika badawcza polegająca na bombardowaniu powierzchni skolimowaną wiązką elektronów o niskiej energii (20–200 eV) i obserwacji dyfrakcji elektronów na ekranie fluorescencyjnym. W badaniu struktury krystalicznej używa się wiązki elektronów o energii od 10 do 1000 eV. Wiązka elektronów jest bardzo silnie rozpraszana przez badane ciało stałe, stąd głębokość penetracji nie przekracza kilku lub kilkunastu stałych sieciowych. Wynikiem tego jest ograniczenie zastosowania metody LEED tylko do badania wiązki odbitej. Informacje uzyskane z eksperymentu dotyczą jedynie struktury warstwy powierzchniowej materiału. Eksperyment przeprowadza się w warunkach ultrawysokiej i czystej próżni, rzędu 10-9 mbar, niezbędnej do zachowania drogi swobodnej elektronów w całym układzie pomiarowym.
rdf:langString
LEED of Laagenergetische elektrondiffractie (Engels: low-energy electron diffraction), is een fysische methode om de wijze van adsorptie van gasatomen aan de oppervlakte te bestuderen. Het berust op het principe van de interferentie van elektronengolven. De interferentie zorgt voor een duidelijk rooster op een scherm. Bij LEED worden elektronengolven gebruikt met een golflengte van ongeveer 0,1 nm (1 ångström). Deze lengte komt overeen met de afstand tussen atomen in een kristalrooster. De gevoeligheid van de elektronen is gebaseerd op de geringe doordringing van de elektronen in het kristal. Die diepte is ongeveer 0,5 tot 1 nm. Om een oppervlak te onderzoeken met LEED moet er een ultrahoog vacuüm heersen (UHV) met een druk die minder is dan 10−8 Pascal. In deze omstandigheden blijft het monsteroppervlak lang genoeg vrij van wisselwerking met gasmoleculen in de atmosfeer van de apparatuur.
rdf:langString
Дифракція повільних електронів скор., ДПЕ, ДЕНЕ інакше дифракція електронів низької енергії (англ. low-energy electron diffraction скор., LEED) — метод дослідження структури поверхні твердих тіл, заснований на аналізі картин дифракції низькоенергетичних електронів з енергією 30-200 еВ, пружно розсіяних від досліджуваної поверхні. Дозволяє вивчати суперструктуру поверхні.
rdf:langString
Дифракция медленных электронов (ДМЭ) — метод исследования поверхностной структуры твердых тел, основанный на анализе дифракционных картин, упруго рассеянных низкоэнергетичных (20–200 эВ) электронов. Позволяет изучать реконструкцию поверхности. ДМЭ может быть использована одним из двух способов:
* Качественно, при этом регистрируется дифракционные картины, а анализ положения дифракционных максимумов дает информацию о симметрии структуры поверхности. При наличии адсорбата качественный анализ может дать информацию о размерах и ориентации вращения элементарной ячейки адсорбата относительно элементарной ячейки субстрата.
* Количественно, при этом исследуются зависимости интенсивности пиков от энергии падающего электронного пучка. При этом фактически получаются ВАХ. Сравнивая полученные кривые, полученные экспериментально, с теоретическими, получаем точную информацию о расположении атомов на поверхности.
rdf:langString
低能电子衍射（英語：Low-energy electron diffraction，LEED）是一种用以测定单晶表面结构的实验手段，使用的低能电子束（20–200 eV）轰击样品表面，可在荧光屏上观测到被衍射的电子所形成的光斑，进而表征样品的表面结构。 低能电子衍射有以下两种应用方式： 1.
* 定性分析：着眼于衍射图案与衍射光斑位置的分析，可获得表面结构的对称性。若表面有吸附物，定性分析可确定吸附物的单位晶格与基底单位晶格的相对大小及方向。 2.
* 定量分析：着眼于衍射电子束的强度与入射电子束能量的关系，将此关系（LEED I-V 曲线）与理论预测相比较，可获得表面原子确切的位置信息。
xsd:double
0.9
xsd:nonNegativeInteger
36151
