Electromigration
http://dbpedia.org/resource/Electromigration an entity of type: WikicatSemiconductorDeviceDefects
Unter Elektromigration (EM) versteht man einen Materialtransport durch allmähliche Bewegung von Ionen in einem festen Leiter, der durch den elektrischen Strom verursacht wird. Kollisionen von Elektronen mit den Ionen und in geringerem Maß auch das elektrische Feld üben eine Kraft auf die Ionen aus, weshalb sie während eines Diffusionsschrittes bevorzugt in eine bestimmte Richtung wandern (Drift). Durch die fortwährende Verkleinerung von Halbleiter-Strukturen gewinnt dieser Effekt an praktischer Bedeutung.
rdf:langString
Electromigration is the transport of material caused by the gradual movement of the ions in a conductor due to the momentum transfer between conducting electrons and diffusing metal atoms. The effect is important in applications where high direct current densities are used, such as in microelectronics and related structures. As the structure size in electronics such as integrated circuits (ICs) decreases, the practical significance of this effect increases.
rdf:langString
Basiquement, on peut définir l'électromigration comme le déplacement d’atomes dans un conducteur induit par un flux d’électrons.Ce mécanisme n’apparait que dans les applications où l’on observe de très forte densité de courant comme en microélectronique.
rdf:langString
L'elettromigrazione è un particolare trasporto di materia, rappresentato dal moto graduale di ioni all'interno di un conduttore a causa del trasferimento di quantità di moto tra elettroni di conduzione e atomi di metallo diffusi. Questo effetto è importante nelle applicazioni in cui vengono impiegate elevate densità di corrente, come ad esempio in microelettronica. L'effetto dell'elettromigrazione aumenta al diminuire delle dimensioni dei circuiti integrati e di altri componenti elettronici.
rdf:langString
전기전진 또는 일렉트로마이그레이션(electromigration)은 전도전자와 금속 속의 흩어져 있는 원자핵들 사이의 운동량의 전달로 인해 발생하는 도체 내의 지속적인 이온의 움직임에 의한 물질의 이동을 지칭하는 용어이다. (microelectronics)과 같이 높은 직류 전류밀도가 사용될 때 이러한 효과는 매우 중요한 부분으로서 다루어 진다. 전자공학에서 집적회로와 같은 구조의 규모가 감소하면 실질적인 전기전진에 의한 효과가 증가한다.
rdf:langString
Elektromigratie (EM) verwijst naar materiaaltransport door de geleidelijke beweging van ionen in een vaste geleider veroorzaakt door de elektrische stroom. Botsingen van elektronen met de ionen en, in mindere mate, het elektrische veld oefenen een kracht uit op de ionen, wat de reden is waarom ze bij voorkeur migreren in een bepaalde richting tijdens een diffusiestap. De verkleining van componenten verhoogt de praktische betekenis van dit effect.
rdf:langString
エレクトロマイグレーション（英: electromigration）とは、電気伝導体の中で移動する電子と金属原子の間で運動量の交換が行われるために、イオンが徐々に移動することにより材の形状に欠損が生じる現象である。その効果は電流密度が高い場合に大きくなる。集積回路が微細化するにつれて、その影響が無視できなくなりつつある。 同種の用語にエレクトロケミカルマイグレーション（イオンマイグレーション）があるが、こちらは電気化学的マイグレーションという点で本項と異なる。
rdf:langString
电迁移（英語：Electromigration）是由于通电导体内的电子运动，把它们的动能传递给导体的金属离子，使离子朝电场反方向运动而逐渐迁移，导致导体的原子扩散、损失的一种现象。由法国科学家约在100年前发现的。但到1966年出现積體電路后，才有更多人对它进行研究。
rdf:langString
Electromigración es el transporte de material causado por el movimiento gradual de los iones en un conductor debido a la transferencia de cantidad de movimiento entre los electrones de conducción y los átomos del metal.El efecto de la electromigración es importante en aplicaciones donde se utilizan densidades de corriente altas, como en la microelectrónica y en estructuras relacionadas. Como el tamaño de la estructura en los dispositivos electrónicos y en los circuitos integrados es muy pequeño, la pérdida de material debida a la electromigración es de importancia. Mucha gente cree que la electromigración es la "migración de electrones" pero en realidad es el material que "migra" por causa de un flujo de electrones, por eso se llama electromigración.
rdf:langString
Электромиграция (ЭМ; англ. electromigration, EM) — явление переноса вещества в проводнике за счёт постепенного дрейфа ионов, возникающее благодаря обмену количеством движения при столкновениях между проводящими носителями и атомной решёткой. Этот эффект играет существенную роль в тех прикладных областях, где используются постоянные токи большой плотности — например, в микроэлектронике. Чем меньше становятся интегральные схемы, тем более заметную практическую роль играет этот эффект.
rdf:langString
rdf:langString
Electromigració
rdf:langString
Elektromigration
rdf:langString
Electromigración
rdf:langString
Electromigration
rdf:langString
Elettromigrazione
rdf:langString
Électromigration
rdf:langString
일렉트로마이그레이션
rdf:langString
エレクトロマイグレーション
rdf:langString
Elektromigratie
rdf:langString
Электромиграция
rdf:langString
电迁移
xsd:integer
563847
xsd:integer
1119347377
rdf:langString
Unter Elektromigration (EM) versteht man einen Materialtransport durch allmähliche Bewegung von Ionen in einem festen Leiter, der durch den elektrischen Strom verursacht wird. Kollisionen von Elektronen mit den Ionen und in geringerem Maß auch das elektrische Feld üben eine Kraft auf die Ionen aus, weshalb sie während eines Diffusionsschrittes bevorzugt in eine bestimmte Richtung wandern (Drift). Durch die fortwährende Verkleinerung von Halbleiter-Strukturen gewinnt dieser Effekt an praktischer Bedeutung.
rdf:langString
Electromigration is the transport of material caused by the gradual movement of the ions in a conductor due to the momentum transfer between conducting electrons and diffusing metal atoms. The effect is important in applications where high direct current densities are used, such as in microelectronics and related structures. As the structure size in electronics such as integrated circuits (ICs) decreases, the practical significance of this effect increases.
rdf:langString
Basiquement, on peut définir l'électromigration comme le déplacement d’atomes dans un conducteur induit par un flux d’électrons.Ce mécanisme n’apparait que dans les applications où l’on observe de très forte densité de courant comme en microélectronique.
rdf:langString
Electromigración es el transporte de material causado por el movimiento gradual de los iones en un conductor debido a la transferencia de cantidad de movimiento entre los electrones de conducción y los átomos del metal.El efecto de la electromigración es importante en aplicaciones donde se utilizan densidades de corriente altas, como en la microelectrónica y en estructuras relacionadas. Como el tamaño de la estructura en los dispositivos electrónicos y en los circuitos integrados es muy pequeño, la pérdida de material debida a la electromigración es de importancia. Mucha gente cree que la electromigración es la "migración de electrones" pero en realidad es el material que "migra" por causa de un flujo de electrones, por eso se llama electromigración. La electromigración es un fenómeno que depende de la temperatura de servicio y de la densidad de corriente que circula por el semiconductor. La electromigración ocurre solo en zonas donde el semiconductor está dopado.
rdf:langString
L'elettromigrazione è un particolare trasporto di materia, rappresentato dal moto graduale di ioni all'interno di un conduttore a causa del trasferimento di quantità di moto tra elettroni di conduzione e atomi di metallo diffusi. Questo effetto è importante nelle applicazioni in cui vengono impiegate elevate densità di corrente, come ad esempio in microelettronica. L'effetto dell'elettromigrazione aumenta al diminuire delle dimensioni dei circuiti integrati e di altri componenti elettronici.
rdf:langString
전기전진 또는 일렉트로마이그레이션(electromigration)은 전도전자와 금속 속의 흩어져 있는 원자핵들 사이의 운동량의 전달로 인해 발생하는 도체 내의 지속적인 이온의 움직임에 의한 물질의 이동을 지칭하는 용어이다. (microelectronics)과 같이 높은 직류 전류밀도가 사용될 때 이러한 효과는 매우 중요한 부분으로서 다루어 진다. 전자공학에서 집적회로와 같은 구조의 규모가 감소하면 실질적인 전기전진에 의한 효과가 증가한다.
rdf:langString
Elektromigratie (EM) verwijst naar materiaaltransport door de geleidelijke beweging van ionen in een vaste geleider veroorzaakt door de elektrische stroom. Botsingen van elektronen met de ionen en, in mindere mate, het elektrische veld oefenen een kracht uit op de ionen, wat de reden is waarom ze bij voorkeur migreren in een bepaalde richting tijdens een diffusiestap. De verkleining van componenten verhoogt de praktische betekenis van dit effect.
rdf:langString
エレクトロマイグレーション（英: electromigration）とは、電気伝導体の中で移動する電子と金属原子の間で運動量の交換が行われるために、イオンが徐々に移動することにより材の形状に欠損が生じる現象である。その効果は電流密度が高い場合に大きくなる。集積回路が微細化するにつれて、その影響が無視できなくなりつつある。 同種の用語にエレクトロケミカルマイグレーション（イオンマイグレーション）があるが、こちらは電気化学的マイグレーションという点で本項と異なる。
rdf:langString
Электромиграция (ЭМ; англ. electromigration, EM) — явление переноса вещества в проводнике за счёт постепенного дрейфа ионов, возникающее благодаря обмену количеством движения при столкновениях между проводящими носителями и атомной решёткой. Этот эффект играет существенную роль в тех прикладных областях, где используются постоянные токи большой плотности — например, в микроэлектронике. Чем меньше становятся интегральные схемы, тем более заметную практическую роль играет этот эффект. При достаточно высокой температуре и плотности тока, в металлах движущиеся под воздействием электрического поля электроны сталкиваются с атомами решётки и толкают их в сторону положительно заряженного электрода. Таким образом, в проводнике появляются обеднённые веществом зоны, вследствие чего сопротивление, а как следствие, и плотность тока в этой зоне существенно возрастают, что приводит к ещё большему нагреву этого участка проводника. В результате, эффект электромиграции может привести к частичному или полному разрушению проводника под воздействием температуры (плавление металла) или из-за полного размытия металла под воздействием электромиграции (англ. void — «пусто́та», «лакуна»). С другой стороны, скопившиеся вещество может сформировать новое непреднамеренное соединение (hillock — «холмик, кучка»), что может привести как к деградации производительности схемы (увеличение паразитных ёмкостей и перекрёстных помех), так и к короткому замыканию.
rdf:langString
电迁移（英語：Electromigration）是由于通电导体内的电子运动，把它们的动能传递给导体的金属离子，使离子朝电场反方向运动而逐渐迁移，导致导体的原子扩散、损失的一种现象。由法国科学家约在100年前发现的。但到1966年出现積體電路后，才有更多人对它进行研究。
xsd:nonNegativeInteger
36992
