Automatic test equipment
http://dbpedia.org/resource/Automatic_test_equipment an entity of type: Thing
Automatic test equipment or automated test equipment (ATE) is any apparatus that performs tests on a device, known as the device under test (DUT), equipment under test (EUT) or unit under test (UUT), using automation to quickly perform measurements and evaluate the test results. An ATE can be a simple computer-controlled digital multimeter, or a complicated system containing dozens of complex test instruments (real or simulated electronic test equipment) capable of automatically testing and diagnosing faults in sophisticated electronic packaged parts or on wafer testing, including system on chips and integrated circuits.
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自動測試設備（Automatic test equipment）簡稱ATE，是指可以利用自動化技術，針對產品進行快速測試的設備，被測試的產品會稱為被测器件（DUT）。簡單的自動測試設備可能只包括電腦控制的萬用表，也可能是包括許多複雜測試設備（實體或是仿真的电子测试设备），其目的是針對複雜的電子產品進行自動化測器以及故障診斷。自動測試設備也可以測試複雜的電子半導體封裝，或進行，待測器件可以是单片系统及集成电路。
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Automatic Test Equipment (ATE) ist ein allgemeiner Begriff für messtechnische Apparaturen, die von der Chip- und Elektronik-Industrie während der Produktion zum Testen benutzt werden.Getestet werden beispielsweise
* Integrierte Schaltungen im Wafer- oder Chip- und Modul-Test
* Analoge Bauteile im eingelöteten Zustand
* Leiterplatten ATEs führen folgende Tests durch:
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I sistemi di collaudo automatico, comunemente definiti con l'acronimo inglese ATE (Automatic Test Equipment), sono tutti quei dispositivi o sistemi, usati per collaudare schede a circuito stampato, circuiti integrati, o qualsiasi altro componente o modulo elettronico correlato. In molti casi è costituito da una vera e propria stazione di lavoro automatica, installata alla fine della linea di produzione, preposta al collaudo del prodotto finito, ad esempio un televisore o un computer.
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Automatic test equipment
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Automatic Test Equipment
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Sistema di collaudo automatico
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自动测试设备
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Automatic Test Equipment (ATE) ist ein allgemeiner Begriff für messtechnische Apparaturen, die von der Chip- und Elektronik-Industrie während der Produktion zum Testen benutzt werden.Getestet werden beispielsweise
* Integrierte Schaltungen im Wafer- oder Chip- und Modul-Test
* Analoge Bauteile im eingelöteten Zustand
* Leiterplatten ATEs führen folgende Tests durch:
* Marginales Testen, beispielsweise ob der Baustein beim Anlegen von elektrischen Signalen in irgendeiner Weise reagiert, Kontakttest
* Parametertest: Messen von Parametern wie Widerstand, Kapazität, Durchlassspannung, Leckstrom, minimale Versorgungsspannung, Geschwindigkeit versus Versorgungsspannung, maximal erreichbare Geschwindigkeit
* Funktionstest: Messen der kompletten Funktion des Bausteins (logische Operationen, Schreiben und Lesen von Speicherchips)
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Automatic test equipment or automated test equipment (ATE) is any apparatus that performs tests on a device, known as the device under test (DUT), equipment under test (EUT) or unit under test (UUT), using automation to quickly perform measurements and evaluate the test results. An ATE can be a simple computer-controlled digital multimeter, or a complicated system containing dozens of complex test instruments (real or simulated electronic test equipment) capable of automatically testing and diagnosing faults in sophisticated electronic packaged parts or on wafer testing, including system on chips and integrated circuits.
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I sistemi di collaudo automatico, comunemente definiti con l'acronimo inglese ATE (Automatic Test Equipment), sono tutti quei dispositivi o sistemi, usati per collaudare schede a circuito stampato, circuiti integrati, o qualsiasi altro componente o modulo elettronico correlato. In molti casi è costituito da una vera e propria stazione di lavoro automatica, installata alla fine della linea di produzione, preposta al collaudo del prodotto finito, ad esempio un televisore o un computer. I dispositivi ATE possono essere controllati da PC o PLC tramite appositi software di gestione e i risultati di collaudo archiviati in database per l'analisi del controllo qualità.
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自動測試設備（Automatic test equipment）簡稱ATE，是指可以利用自動化技術，針對產品進行快速測試的設備，被測試的產品會稱為被测器件（DUT）。簡單的自動測試設備可能只包括電腦控制的萬用表，也可能是包括許多複雜測試設備（實體或是仿真的电子测试设备），其目的是針對複雜的電子產品進行自動化測器以及故障診斷。自動測試設備也可以測試複雜的電子半導體封裝，或進行，待測器件可以是单片系统及集成电路。
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