Annular dark-field imaging
http://dbpedia.org/resource/Annular_dark-field_imaging an entity of type: Software
環状暗視野像（かんじょうあんしやぞう）は走査型透過電子顕微鏡(STEM)のマッピング像である。環状暗視野検出器で検出した散乱電子によって作られる。 STEMではない従来の暗視野検鏡（平行ビームモード）では、対物アパーチャー（絞り）は散乱電子だけを検出するためにメインビームを避けて回折面に位置していた。一方でSTEMモードでは、明視野モードと暗視野モードの区別はもっと下流に位置しており、集束ビームはサンプルと相互作用した後にある。その結果、暗視野検鏡とSTEM暗視野像との間でコントラストの機構が異なる。 環状暗視野検出器は、ビーム周囲の環帯からの電子を集め、対物アパーチャーを通過できる散乱電子をより多く検出する。これはシグナル収集効率が高いことと、メインビームをEELS検出器に通すことで2つの測定が同時に出来るという利点がある環状暗視野マッピングは一般的に、エネルギー分散型X線分析や明視野(STEM)イメージングと同時に行われる。 環状暗視野像は非常に大きな角度でのみ作られ、ブラッグ散乱電子ではないようなめちゃくちゃに散乱した電子はサンプル中の原子の原子番号に敏感である（Z-コントラスト像）。この手法は高角環状暗視野像(HAADF)として知られている。
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Annular dark-field imaging is a method of mapping samples in a scanning transmission electron microscope (STEM). These images are formed by collecting scattered electrons with an annular dark-field detector.
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Imagem de campo escuro anular é um método de mapear amostras e, um microscópio eletrônico de varredura por transmissão. Estas imagens são formadas por coletar-se elétrons dispersos com um detector de campo escuro anular. Na imagem de campo escuro tradicional, uma abertura de objetiva é colocada no plano de difração de modo a coletar somente os elétrons em dispersão através da abertura, evitando o feixe principal.
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Annular dark-field imaging
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環状暗視野像
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Imagem de campo escuro anular
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Annular dark-field imaging is a method of mapping samples in a scanning transmission electron microscope (STEM). These images are formed by collecting scattered electrons with an annular dark-field detector. Conventional TEM dark-field imaging uses an objective aperture in order to only collect scattered electrons that pass through. In contrast, STEM dark-field imaging does not use an aperture to differentiate the scattered electrons from the main beam, but uses an annular detector to collect only the scattered electrons. Consequently, the contrast mechanisms are different between conventional dark field imaging and STEM dark field. An annular dark field detector collects electrons from an annulus around the beam, sampling far more scattered electrons than can pass through an objective aperture. This gives an advantage in terms of signal collection efficiency and allows the main beam to pass to an electron energy loss spectroscopy (EELS) detector, allowing both types of measurement to be performed simultaneously. Annular dark field imaging is also commonly performed in parallel with energy-dispersive X-ray spectroscopy acquisition and can be also done in parallel to bright-field (STEM) imaging.
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環状暗視野像（かんじょうあんしやぞう）は走査型透過電子顕微鏡(STEM)のマッピング像である。環状暗視野検出器で検出した散乱電子によって作られる。 STEMではない従来の暗視野検鏡（平行ビームモード）では、対物アパーチャー（絞り）は散乱電子だけを検出するためにメインビームを避けて回折面に位置していた。一方でSTEMモードでは、明視野モードと暗視野モードの区別はもっと下流に位置しており、集束ビームはサンプルと相互作用した後にある。その結果、暗視野検鏡とSTEM暗視野像との間でコントラストの機構が異なる。 環状暗視野検出器は、ビーム周囲の環帯からの電子を集め、対物アパーチャーを通過できる散乱電子をより多く検出する。これはシグナル収集効率が高いことと、メインビームをEELS検出器に通すことで2つの測定が同時に出来るという利点がある環状暗視野マッピングは一般的に、エネルギー分散型X線分析や明視野(STEM)イメージングと同時に行われる。 環状暗視野像は非常に大きな角度でのみ作られ、ブラッグ散乱電子ではないようなめちゃくちゃに散乱した電子はサンプル中の原子の原子番号に敏感である（Z-コントラスト像）。この手法は高角環状暗視野像(HAADF)として知られている。
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Imagem de campo escuro anular é um método de mapear amostras e, um microscópio eletrônico de varredura por transmissão. Estas imagens são formadas por coletar-se elétrons dispersos com um detector de campo escuro anular. Na imagem de campo escuro tradicional, uma abertura de objetiva é colocada no plano de difração de modo a coletar somente os elétrons em dispersão através da abertura, evitando o feixe principal. Um detector de campo escuro anular coleta elétrons de um anel em torno do feixe, amostragem de elétrons muito mais dispersos do que pode passar através de uma abertura de objetiva. Isso dá uma vantagem em termos de eficiência de coleta de sinal e permite que o feixe principal passe para um detector de espectroscopia de perda de energia de elétrons, permitindo que ambos os tipos de medição sejam realizadas simultaneamente. Uma imagem de campo escuro anular formada apenas por ângulos muito elevados, os elétrons dispersos incoerentemente - ao contrário de elétrons dispersos pela difração de Bragg - é altamente sensível a variações no número atômico dos átomos da amostra (imagens de contraste Z). Esta técnica também é conhecida como imagem de campo escuro de alto ângulo (HAADF high-angle annular dark-field imaging).
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